納米粒度電位儀 BeNano 90 Zeta在納米材料粒徑測(cè)試中的應(yīng)用
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時(shí)間: 2023-04-25 15:21 瀏覽量: 40
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隨著材料合成和加工技術(shù)的不斷完善,一些 新的材料不斷在新能源中得到應(yīng)用,其中納米材料由于其自身的小尺寸效應(yīng)、界面效應(yīng)以及隧道 效應(yīng)等從而在光、電、量子等方面展現(xiàn)出獨(dú)特的性能,因而在新能源領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用,比 如太陽(yáng)能領(lǐng)域的納米導(dǎo)電銀漿、鋰電池領(lǐng)域中的 納米炭黑導(dǎo)電劑以及半導(dǎo)體領(lǐng)域相關(guān)的納米硅漿 等。雖然這些納米材料的顆粒大小和粒度分布十 分重要,然而由于這些顆粒粒徑極小,對(duì)光的散射強(qiáng)度極弱,因此給粒度測(cè)試帶來(lái)了極大的挑戰(zhàn), 尤其是對(duì)于經(jīng)典的靜態(tài)激光衍射技術(shù)來(lái)說(shuō),亞微 米或者納米顆粒測(cè)試面臨著一定的風(fēng)險(xiǎn)。而動(dòng)態(tài) 光散射技術(shù)則是利用顆粒在懸液中的布朗運(yùn)動(dòng), 通過(guò)檢測(cè)粒子的自由擴(kuò)散速度,從而利用斯托克 斯 - 愛(ài)因斯坦方程快速計(jì)算出納米顆粒的粒度分布。
百特納米激光粒度儀采用雪崩光電二極管探測(cè)器,大大提高顆粒檢 測(cè)的靈敏度 最多可達(dá) 4000 個(gè)相關(guān)器通道,輕松實(shí)現(xiàn)寬范 圍粒徑測(cè)試 光源智能控制系統(tǒng),根據(jù)樣品濃度及散射強(qiáng)度自動(dòng)調(diào)節(jié)光源能量。
百特BeNano 90 Zeta 功能和參數(shù)
粒徑檢測(cè)
粒徑范圍:0.3 nm–15μm
最小樣品量:3μL
檢測(cè)角度:90°
Zeta 電位測(cè)試
檢測(cè)角度:12°
Zeta 范圍:無(wú)實(shí)際限制
電泳遷移率范圍:> ±20 μ.cm/V.s
電導(dǎo)率范圍:260 mS/cm
粒徑范圍:2 nm–110 μm
最小樣品量:0.75mL
系統(tǒng)參數(shù)
溫控范圍:-10℃ ~110℃ ±0.1℃
冷凝控制:干燥空氣或者氮?dú)?nbsp;
激光光源:50mW 高性能固體激光器, 671 nm
相關(guān)器:最多 4000 通道,1011 動(dòng)態(tài)線性范圍 檢
測(cè)器:APD (高性能雪崩光電二極管)
光強(qiáng)控制:0.0001%-100% 手動(dòng)或者自動(dòng)
尺寸:625×400×245mm(22kg)
檢測(cè)參數(shù)
流體力學(xué)尺寸
Dh 分布系數(shù)
PD.I 擴(kuò)散系數(shù)
D 顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布
顆粒體系的 Zeta 電位及其分布
百特BeNano 90 Zeta 突出特點(diǎn)
高速測(cè)試能力 : 更快的測(cè)試速度,所有結(jié)果 可以隨后編輯處理 高性能固體激光器光源 : 高功率、穩(wěn) 定性、長(zhǎng)壽命、低維護(hù) 智能光源能量調(diào)節(jié) : 根據(jù)信噪比,軟件智能 控制光源能量 光纖檢測(cè)系統(tǒng) : 高靈敏度,有效增加信噪比 毛細(xì)管極微量粒徑池 :3-5μL 極微量樣品檢 測(cè)和更好的大顆粒測(cè)試質(zhì)量 智能結(jié)果判斷系統(tǒng) : 智能辨別信號(hào)質(zhì)量、消 除隨機(jī)事件影響 相位分析光散射 : 準(zhǔn)確檢測(cè)低電泳遷移率樣 品的 Zeta 電位 可拋棄毛細(xì)管電極 : Zeta 電位測(cè)試 重復(fù)性,避免交叉污染 高穩(wěn)定性設(shè)計(jì) : 結(jié)果重復(fù)好,不需日常 光路維護(hù) 靈活的動(dòng)態(tài)計(jì)算模式 : 多種計(jì)算模型選擇涵 蓋科研和應(yīng)用領(lǐng)域